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Microscopio a scansione elettronica (SEM) con microsonda EDS/WDS

Il Sistema è costituito da: Microscopio elettronico a scansionee Microanalizzatore a raggi X EDS.
  • Tipo di prova: osservazioni frattografiche e microstrutturali di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi; Analisi chimiche elementali.
  • Modalità di utilizzo: utilizzabile, previo accordo formale, anche da parte di utenti esterni assistiti dal personale del laboratorio.
  • Condizioni di utilizzo: Tramite preventivo.

Contatti

Prof. Dario Croccolo

Direttore CIRI MAM

Viale Risorgimento, 2

40136 - Bologna